В России испытали новый прибор для экспериментов с проводниками

Команда исследователей из Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета «ЛЭТИ» представила инновационный подход к тестированию передовых проводниковых материалов для электроники нового поколения.

Вместо использования контактных измерителей, которые повреждают дорогостоящие пленочные полупроводники, они успешно применили новый «жидкий» зонд, созданный на основе расплавленных галлия и индия. Этот прибор отличается высокой точностью и низкой стоимостью, что делает его эффективным средством для исследования тонких образцов материалов без их разрушения.

Профессор Никита Пермяков, доцент кафедры микро- и наноэлектроники «ЛЭТИ», подчеркнул, что использование «жидких» зондов позволяет более детально изучать тонкие пленочные образцы материалов, обеспечивая высокую точность измерений по сравнению с традиционными прижимными контактами. Этот метод, согласно Пермякову, обеспечивает точность измерений, сопоставимую с более дорогостоящим и сложным оборудованием, таким как сканирующий зондовый микроскоп.

В настоящее время множество научных учреждений, включая ЛЭТИ, занимаются разработкой полупроводников нового поколения для замены традиционных кремниевых пластин. С ростом сложности и производительности электронных устройств кремниевые полупроводники подходят к своим пределам, поэтому внимание ученых переключается на создание полупроводников из тонких пленок различных металлов.

Проблемой в этом процессе является тестирование электрических свойств тонких пленок, так как они являются уязвимыми для деформации. Новый подход с использованием «жидкого» зонда, созданного на основе галлия и индия, решает эту проблему, предоставляя возможность проводить тестирование без повреждения материала.

Разработанный прибор уже успешно прошел испытания, а результаты исследования были опубликованы в международном научном журнале Technologies. Ученые планируют дальнейшие усовершенствования, включая создание более сложной системы с несколькими зондами для точных измерений в пространстве.